Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Название статьи
- Моделирование биномиального зависимого закона распределения значений вероятностей ошибок нейросетевых преобразователей для высоконадежной биометрической защиты
- Авторы
- Надеев Д. Н. , , ,
- В разделе
- БИОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ЗАЩИТЫ ИНФОРМАЦИИ
- Ключевые слова
- Год
- 2008 номер журнала 3 Страницы 31 - 35
- Индекс УДК
- 519.7+621.394.67
- Код EDN
- Код DOI
- Финансирование
- Тип статьи
- Научная статья
- Аннотация
- Проведены оценки вероятностей ошибок первого и второго рода для неидеальных биометрико-нейросетевых преобразователей с 256 выходами, и построены номограммы зависимости вероятности ошибок "Своего" и "Чужого" от математического ожидания и среднеквадратического отклонения ненормированной меры Хэмминга.
- Полный текст статьи
- Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Список цитируемой литературы
-
Иванов А. И., Надеев Д. Н. Оценка вероятностей состояний выходных разрядов преобразователя биометрия/код: моделирование закона распределения//Труды научно-техни-ческой конференции "Безопасность информационных технологий. - Пенза: Изд-во ПНИЭИ. 2005. Т. 6. С. 41-45. (http://beda.stup.ac.ru/RV-сonf/v06/011)
Малыгин А. Ю., Волчихин В. И., Иванов А. И., Фунтиков В. А. Быстрые алгоритмы тестирования нейросетевых механизмов биометрико-криптографической защиты информации. - Пенза: Изд-во Пензенского государственного университета, 2006. - 121 с.
- Купить
