Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Название статьи
- Новый способ расчета матричных поправок в рентгеноспектральном микроанализе
- Авторы
- Михеев Николай Николаевич Mikheev-n@Kaluga.net, ведущий научный сотрудник, Филиал Института кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН Научно-исследовательский центр "Космическое материало-ведение", Россия, 248640, г. Калуга, ул. Академическая, 8. Тел. (4842) 72-96-42
Степович Михаил Адольфович m.stepovich@mail.ru, заведующий кафедрой, Калужский государственный университет им. К. Э. Циолковского, Россия, 248023, г. Калуга, ул. Степана Разина, 26а. Тел. (4842) 57-61-20
Широкова Екатерина Васильевна , аспирантка, Калужский государственный университет им. К. Э. Циолковского, Россия, 248023, г. Калуга, ул. Степана Разина, 26а. Тел. (4842) 57-61-20
- В разделе
- ЭЛЕКТРОННЫЕ И ИОННЫЕ ПУЧКИ
- Ключевые слова
- количественный рентгеноспектральный микроанализ / матричные поправки / характеристическое рентгеновское излучение
- Год
- 2012 номер журнала 2 Страницы 31 - 35
- Индекс УДК
- УДК 537.533.35:53.072
- Код EDN
- Код DOI
- Тип статьи
- Материалы конференций
- Аннотация
- Представлен метод расчета поправки на поглощение рентгеновского характеристического излучения при количественном рентгеноспектральном микроанализе, основанный на новом методе расчета функции распределения по глубине рентгеновского характеристического излучении φ(ρz).
- Полный текст статьи
- Для прочтения полного текста необходимо купить статью
- Список цитируемой литературы
-
Scott V. D., Love G.// X-ray Spectrometry. 1992. V. 21.
Duncumb P.// Proc. 27th Annual meeting of the Microbeam Analysis Society. 1992. P. 1674.
Duncumb P.// Mikrochimica Acta. 1994. V. 114/115. P. 3.
Pouchou J.-L., Pichoir F. // La Recherch Aerospatiale. 1984. V. 13. P. 350.
Pouchou J.-L., Pichoir F. // Proc. of 11th Inter. Congr. On X-ray Optics and Microanalysis. 1987. P. 249.
Gaber M. // X-ray Spectrometry. 1992. V. 21. P. 215.
Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. // Известия РАН. Серия физическая. 2010. Т. 74. № 7. С. 1043.
Михеев Н. Н., Степович М. А. // Заводская лаборатория. 1996. № 4. С. 20.
Михеев Н. Н., Петров В. И., Степович М. А. // Известия АН СССР. Серия физическая. 1991. Т. 55. № 8. С. 1474.
Fitting H. J. // Phys. Stat. Sol.(a). 1974. P. 525.
Михеев Н. Н., Петров В. И., Степович М. А. // Известия РАН. Серия физическая. 1995. Т. 59. № 2. С. 144.
Castaing R., Henoc J. // IVe Congres International sur Optique des Rayons X et Microanalyse. 1966. P. 120.
Vignes A., Dez G. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1968. V. 1. P. 1309.
Castaing R., Descamps J. // J. Phys. Rad. 1955. V. 16. P. 304.
Green M. Thesis. University of Cambridge. 1962.
Phillibert J.// X-ray Optics and X-ray Microanalysis. 1963. P. 379.
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа: Пер. с англ./ Под ред. И. Б. Боровского. - М.: Наука, 1973.
- Купить
- 100.00 руб