Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Название статьи
- ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ И ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ПЛАТИНИТА МЕТОДАМИ РЭМ И СЗМ
- Авторы
- Нищев Константин Николаевич nishchev@inbox.ru, директор, Институт физики и химии Национального исследовательского Мордовского государственного университета им. Н. П. Огарева, г. Саранск, Россия
Мишкин Владимир Петрович vladimirm1978@mail.ru, младший научный сотрудник лаборатории электронной микроскопии и малоугловой рентгеновской дифрактометрии, Институт физики и химии Национального исследовательского Мордовского государственного университета им. Н. П. Огарева, г. Саранск, Россия
Вилкова Мария Викторовна mariya.vilkova@gmail.com, аспирант, Институт физики и химии Национального исследовательского Мордовского государственного университета им. Н. П. Огарева, г. Саранск, Россия
Илюшкин Виктор Юрьевич ilyushkin092009@rambler.ru, студент, Институт физики и химии Национального исследовательского Мордовского государственного университета им. Н. П. Огарева, г. Саранск, Россия
Рожаев Дмитрий Иванович mr_chester@mail.ru, студент, Институт физики и химии Национального исследовательского Мордовского государственного университета им. Н. П. Огарева, г. Саранск, Россия
- В разделе
- ФИЗИКА. ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ. ТЕРМОДИНАМИКА
- Ключевые слова
- композиционные материалы / платинит / микроструктура / элементный состав / растровая электронная микроскопия / фокусированный ионный пучок / сканирующая зондовая микроскопия
- Год
- 2014 номер журнала 1 Страницы 43 - 48
- Индекс УДК
- 537.533.35, 53.085.332, 539.534.9, 53.086
- Код EDN
- Код DOI
- Тип статьи
- Научная статья
- Аннотация
- Проведены исследования микроструктуры и элементного состава образцов оксидированной платинитовой проволоки, применяемой для изготовления электрических вводов в производстве изделий электронной и электровакуумной техники, с использованием растрового электронного микроскопа (РЭМ) Quanta 200i 3D FEI и сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) SPM 9600 Shimadzu. Выбраны оптимальные методики РЭМ и СЗМ для определения толщины медной оболочки платинита, толщины и микроструктуры поверхностного слоя закиси меди. Показано, что для выявления микроструктуры платинита методом РЭМ наиболее оптимально применять детектор обратно отраженных электронов (BSED), а для определения толщины поверхностного окисного слоя использовать функцию фокусированного ионного пучка и возможности ионной оптики РЭМ Quanta 200 i 3D FEI.
- Полный текст статьи
- Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Список цитируемой литературы
-
Касаткина Е. Г. Повышение качества оксидированной композиционной проволоки специального назначения // Вестник МГТУ. - г. Магнитогорск: МГТУ, 2005. № 1. С. 71-73.
Гун Г. С., Касаткина Е. Г., Солдатенко А. Ф. Совершенствование технологии производства платинита с целью улучшения качества // Металлургия России на рубеже XXI века: Труды междунар. науч.-практич. конф. - г. Новокузнецк: СГИУ, 2005. С. 233-237.
- Купить
