Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Название статьи
- Экстракция параметров паразитных элементов в системе Calibre хRC для посттопологического моделирования матричных мультиплексоров
- Авторы
- Хромов Сергей Сергеевич orion@orion-ir.ru, начальник дизайн-центра, ФГУП «НПО "Орион"», Россия, 111123, Москва, Шоссе Энтузиастов, 46/ 2
Зайцев Алексей Андреевич orion@orion-ir.ru, ведущий инженер-электроник, ФГУП «НПО "Орион"», Россия, 111123, Москва, Шоссе Энтузиастов, 46/ 2
- В разделе
- ФОТОЭЛЕКТРОНИКА: ЭЛЕМЕНТНАЯ БАЗА И ТЕХНОЛОГИЯ
- Ключевые слова
- посттопологическое моделирование / экстракция / паразитные элементы
- Год
- 2011 номер журнала 4 Страницы 72 - 75
- Индекс УДК
- УДК 621.382
- Код EDN
- Код DOI
- Финансирование
- Тип статьи
- Научная статья
- Аннотация
- Рассмотрена необходимость проведения экстракции паразитных параметров трассировки и посттопологического моделирования при проектировании интегральных схем матричных мультиплексоров. Приведено сравнение скорости экстракции и вклада паразитных элементов в инерционность схемы для различных режимов экстракции и моделей паразитных параметров. Показано, что роль паразитных элементов увеличивается с уменьшением проектных норм.
- Полный текст статьи
- Для прочтения полного текста необходимо купить статью
- Список цитируемой литературы
-
Дмитреев Е. // Электроника: НТБ. 2007. № 7. С. 23.
ISC9803 Specification - FLIR Systems Inc., www. corebyindigo.com
Рева В. П., Сизов Ф. Ф. // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. 2004. № 6. С. 12.
Samavati H., Hajimiri A., Shahani A. // IEEE Journal of Solid-State Circuits. 1998. No. 12. Р. 34.
Адамов Д. // Электроника: НТБ. 2007. № 8. С. 16.
Kao W., Chi-Yuan Lo, Basel M., Singh R. // Proc. of the IEEE. 2001. No. 5. P. 56.
Денисенко В. В. // Компоненты и технологии. 2002. № 3. С. 56
Calibre хRC User's Guide - Mentor Graphics Corporation, 2007.
Standard Verification Rule Format (SVRF) Manual - Mentor Graphics Corporation, 2007.
Kepten A., Shacham-Diamand Y., Schacham S. E. // Proceeding of IEEE in Israel. 1989. Mar. P. 34.
ADiT User's and Reference Manual - Mentor Graphics Corporation, 2007.
- Купить
- 100.00 руб